美爾諾電子負(fù)載的原理是控制內(nèi)部功率MOSFET或晶體管的導(dǎo)通量(量占空比大小),靠功率管的耗散功率消耗電能的設(shè)備,它能夠準(zhǔn)確檢測(cè)出負(fù)載電壓,調(diào)整負(fù)載電流,同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)模擬負(fù)載短路,模擬負(fù)載是感性阻性和容性,容性負(fù)載電流上升時(shí)間。 一般開(kāi)關(guān)電源的調(diào)試檢測(cè)是*的。
美爾諾電子負(fù)載可以模擬真實(shí)環(huán)境中的負(fù)載(用電器)。它有恒流、恒阻、恒壓和恒功率功能,以及短路,過(guò)流,動(dòng)態(tài)等等,應(yīng)該說(shuō)所有的電源廠家都會(huì)有用,而且也必須有。電子負(fù)載分為直流電子負(fù)載和交流電子負(fù)載,由于電子負(fù)載的應(yīng)用面問(wèn)題,本文主要介紹直流電子負(fù)載。
美爾諾電子負(fù)載一般分為單體電子負(fù)載和多體電子負(fù)載,此劃分針對(duì)用戶需求,待測(cè)物單一或需多個(gè)同時(shí)測(cè)試而定。我們就以具有代表性的多體電子負(fù)載為例來(lái)說(shuō)明,選取了各個(gè)廠商的代表性產(chǎn)品:安捷倫N3300A系列,CHROMA63100系列,博計(jì)3310D系列和艾德克斯IT8700系列為例針對(duì)電子負(fù)載的選型加以說(shuō)明。
美爾諾電子負(fù)載應(yīng)該有完善的保護(hù)功能。保護(hù)功能分為對(duì)內(nèi)(電子負(fù)載)保護(hù)功能和對(duì)外(被測(cè)設(shè)備)保護(hù)功能。對(duì)內(nèi)保護(hù)有:過(guò)壓保護(hù),過(guò)流保護(hù),過(guò)功率保護(hù),電壓反向和過(guò)溫保護(hù)。對(duì)外保護(hù)有:過(guò)流保護(hù),過(guò)功率保護(hù),吃載電壓荷低電壓保護(hù)。選擇電子負(fù)載應(yīng)該選擇是擁有真保護(hù)國(guó)內(nèi)的電子負(fù)載。如果功能是由硬件實(shí)現(xiàn)的,保護(hù)速度會(huì)很快。如果是由軟件實(shí)現(xiàn),速度有滯后性,并且模組死機(jī)的話將會(huì)發(fā)生危險(xiǎn)。
美爾諾電子負(fù)載是功能性軟件:
測(cè)試數(shù)據(jù)可見(jiàn)打印報(bào)告、生產(chǎn)圖像導(dǎo)出報(bào)表及保存數(shù)據(jù)。軟件以圖像和數(shù)據(jù)共同顯示的方式,更直觀和便于對(duì)比。
顯示方式:全部顯示(多次測(cè)試或長(zhǎng)時(shí)間顯示),示波器模式(單次測(cè)試圖像及參數(shù))
基本測(cè)試:功能性測(cè)試、動(dòng)態(tài)測(cè)試、老化及加速老化、帶載能力測(cè)試
序列測(cè)試:提供一個(gè)長(zhǎng)達(dá)50步的序列測(cè)試功能
自動(dòng)測(cè)試:完成電源的自動(dòng)品質(zhì)判定
過(guò)載測(cè)試:完成電源的極限測(cè)試,并產(chǎn)生圖像,OCP、OVP、OPP測(cè)試
電池模擬測(cè)試:模擬電池的充放電測(cè)試,同時(shí)測(cè)試電池的內(nèi)阻、容量及充電電量
SCPI通訊:支持客戶自己編輯功能和通訊調(diào)試