線(xiàn)圈元件的脈沖測(cè)試技術(shù)

什么是線(xiàn)圈元件的脈沖測(cè)試及線(xiàn)圈脈沖測(cè)試原理

圖1.  脈沖測(cè)試方案簡(jiǎn)述

      預(yù)先對(duì)儲(chǔ)能電容C1充電，充電電壓為儀器設(shè)定得zui大電壓，以一極短暫的時(shí)間將開(kāi)關(guān)SW1合上，在SW1合上器件，由于C1≥C2，C1快速對(duì)C2充電，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后SW1斷開(kāi)。
同時(shí)，該激勵(lì)脈沖同時(shí)加于一被測(cè)線(xiàn)圈Lx，C2、Rp、Lx將呈現(xiàn)一自由衰減震蕩，該衰減震蕩呈指數(shù)下降趨勢(shì)并調(diào)制以正弦信號(hào)。根據(jù)其與諧振電容C2的衰減振蕩情況來(lái)了解線(xiàn)圈內(nèi)部狀態(tài)來(lái)判斷該繞線(xiàn)元件品質(zhì)情況： 包含線(xiàn)圈自身的絕緣，繞線(xiàn)電感量，及并聯(lián)電容量等狀態(tài)。               

上圖中：         

C1：儲(chǔ)能電容
C2：諧振容量
Cp：線(xiàn)圈兩端等效并聯(lián)電容
R： 能量消耗等效并聯(lián)電阻
Lx：線(xiàn)圈等效電感
 

 

圖2  線(xiàn)圈的衰減震蕩曲線(xiàn)

      線(xiàn)圈類(lèi)產(chǎn)品（如變壓器、電機(jī)等）由于繞線(xiàn)材料、磁性材料、骨架、加工工藝等因素的影響會(huì)產(chǎn)生線(xiàn)圈層間、匝間及引腳間等絕緣性能的降低。
      線(xiàn)圈的脈沖測(cè)試可在不損壞被測(cè)件的條件下測(cè)試其電氣性能。這種測(cè)試方法能在短暫的瞬間判別線(xiàn)圈的品質(zhì)。測(cè)量時(shí)將與標(biāo)準(zhǔn)線(xiàn)圈測(cè)量時(shí)同樣的脈沖通過(guò)電容器放電施加于被測(cè)線(xiàn)圈，由于線(xiàn)圈電感量、雜散電容和Q值的存在，將響應(yīng)一個(gè)對(duì)應(yīng)于該放電脈沖的電壓衰減波形，比較該衰減波形的某些特征，可以檢測(cè)線(xiàn)圈匝間和層間短路及圈數(shù)和磁性材料的差異, 如果施加一個(gè)高電壓脈沖，根據(jù)出現(xiàn)的電暈或?qū)娱g放電來(lái)判斷絕緣不良。